既に身近な電子機器であるほとんどのモバイル・デバイスは、人体の接触なしに活用することはできません。これらのデバイスを使う環境はあらゆる条件での対応を迫られています。本セッションでは、大きな問題となってきている、ESD(electro-static discharge; 静電気放電)現象を、ANSYS電磁界解析ツールを使用し、その仮想検証の手法について紹介します。
講演者
アンシス・ジャパン 株式会社
技術本部 4グループ
プリンシパル・アプリケーションエンジニア
太田 明
対象製品群
CR-5000、他 CR-8000
対象製品
解析関連（テクノロジーパートナー様ツール含む）
対象技術分野
CAE分野
対象図研製品名
：CR-5000、CR-8000
対象業種
電子デバイス製品
