BGAなどのプローブアクセスが困難な実装検査の課題を解決するJTAG バウンダリスキャンテストが注目されています。これを最大限に活用するには、MPU、FPGA 等のJTAG 搭載デバイスが正しく接続されることに加え、カバレッジを最大限に引き出す設計上の工夫が求められます。 XJTAG社の無料プラグインは、専門知識が無くても回路設計段階でテスト容易化設計を支援し、手戻りを防ぎ、量産化プロセスを改善することに貢献します。
講演者
XJTAG Limited.
CEO
Mr. Simon Payne
対象製品
Design Gateway（回路設計）
対象技術分野
その他
対象図研製品名
：CR-8000 Design Gateway
補足情報
【関連展示ブース、ホワイエセッション】
2 XJTAG（富士設備工業株式会社）：回路図設計段階でJTAGテスト容易化を支援
16 CR-8000 Design Gateway：システムレベル回路設計ソリューション
2 XJTAG（富士設備工業株式会社）：回路図設計段階でJTAGテスト容易化を支援
16 CR-8000 Design Gateway：システムレベル回路設計ソリューション
